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Figure1.AnalysisofO-vacancydefectsonthereducedCo3O4nanosheets.(a)CoK-edgeXANESspectra,indicatingareducedelectronicstructureofreducedCo3O4.(b)PDFanalysisofpristineandreducedCo3O4nanosheets,suggestingalargevariationofinteratomicdistancesinthereducedCo3O4structure.(c)CoK-edgeEXAFSdataand(d)thecorrespondingk3-weightedFourier-transformeddataofpristineandreducedCo3O4nanosheets,demonstratingthatO-vacancieshaveledtoadefect-richstructureandloweredthelocalcoordinationnumbers.XRDXRD全称是X射线衍射，途中即通过对材料进行X射线衍射来分析其衍射图谱，途中以获得材料的结构和成分，是目前电池材料常用的结构组分表征手段。被熊而机理研究则是考验科研工作者们的学术能力基础和科研经费的充裕程度。Fig.2In-situXRDanalysisoftheinteractionsduringcycling.（a）XRDintensityheatmapfrom4oto8.5oofa2.4mgcm–2cellsfirstcycledischargeat54mAg–1andchargeat187.5mAg–1,wheretriangles=Li2S,square=AQ,asterisk=sulfur,andcircle=potentiallypolysulfide2θ.(b)ThecorrespondingvoltageprofileduringtheinsituXRDcyclingexperiment.材料形貌表征在材料科学的研究领域中，袭击险常用的形貌表征主要包括了SEM，袭击险TEM，AFM等显微镜成像技术。

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XANES X射线吸收近边结构（XANES）又称近边X射线吸收精细结构（NEXAFS），网友是吸收光谱的一种类型

然后，登山为了定量的分析压电滞回线的凹陷特征，构建图3-8所示的凸结构曲线。图1剥离聚丙烯保护层后干膜的组成示意图及其C1s谱图图2剥离后的聚丙烯层示意图及其C1s谱图纯聚丙烯表面的碳谱有单个不对称峰，途中来源于CH2,CH3的贡献，途中而与干膜接触后又被剥离的的聚丙烯表面的碳谱出现了C-O,C-C,C=O等与干膜的碳峰相似的峰，干膜的XPS分析表明其表面可能是部分酯化化纤维素的混合物和脂肪族碳化物。

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